Capacidades
Inspección de calidad y metrología
Metrología interna completa: inspección dimensional CMM, análisis superficial AFM/perfilómetro, prueba de fuga con helio, verificación de pureza ICP-OES y registros ISO 9001.
Inspección de calidad y metrología
Cada componente de Tuguan Semiconductor sale de fábrica con registros de calidad documentados y trazables. Nuestro laboratorio interno cubre inspección dimensional, caracterización superficial, verificación de pureza y pruebas funcionales, reduciendo la dependencia de laboratorios externos para requisitos rutinarios.
Inspección dimensional
Máquina de medición por coordenadas (CMM)
| Capacidad | Especificación |
|---|---|
| Precisión volumétrica | ±0.001 mm (MPEE) |
| Repetibilidad | ±0.0005 mm |
| Rango de medición | 600 × 700 × 500 mm |
| Palpador | Esfera de rubí de 1 mm |
| Reporte | PDF + superposición DXF |
Los componentes con tolerancias ≤ ±0.05 mm reciben un informe dimensional completo vinculado a cada característica del plano del cliente.
Medición óptica y láser
Para piezas grandes, delgadas o delicadas donde el contacto CMM puede causar rotura, utilizamos micrómetro láser, comparador óptico y medidor digital de altura.
Metrología superficial
| Instrumento | Parámetro | Resolución |
|---|---|---|
| Interferómetro de luz blanca | Planitud, forma superficial | 0.1 nm vertical |
| Perfilómetro de contacto | Ra, Rq, Rz | 0.01 nm vertical |
| AFM | Rugosidad sub-nm | 0.01 nm RMS |
| Microscopio Nomarski DIC | Scratch-dig, defectos superficiales | MIL-PRF-13830 |
| CMM calibrado | Tolerancias dimensionales | ±0.001 mm |
Prueba de fugas
Todos los ensambles de cuarzo soldados por fusión para vacío o manejo de gases se someten a prueba de fuga con helio al 100%.
| Parámetro | Especificación |
|---|---|
| Sensibilidad | 1×10⁻¹⁰ mbar·L/s |
| Criterio estándar | < 1×10⁻⁹ mbar·L/s |
| Criterio de alta integridad | < 1×10⁻¹⁰ mbar·L/s (bajo solicitud) |
| Método | Campana de helio o cámara de vacío |
Pureza y caracterización óptica
ICP-OES verifica Na, K, Li, Ca, Mg, Fe, Cr, Ni, Cu, Al, B y otros metales traza. XRD confirma la orientación cristalina en zafiro y materiales monocristalinos. El polariscopio mide birrefringencia en cuarzo transparente y sílice fundida. También podemos medir transmisión UV-VIS-NIR de 190 nm a 2500 nm para ventanas ópticas y óptica láser.
Sistema de gestión de calidad
| Elemento | Detalles |
|---|---|
| Norma QMS | ISO 9001:2015 |
| Calibración | Instrumentos trazables a estándares NIST/NIM |
| No conformidad | Sistema NCR con causa raíz y acción correctiva |
| Inspección de primer artículo | Reporte FAI para nuevos números de pieza |
| Trazabilidad de lote | Número de lote, certificado de material e inspección vinculados a cada envío |
Los documentos estándar incluyen certificado de material, informe dimensional, informe de rugosidad y certificado de conformidad. Bajo solicitud podemos emitir reportes de birrefringencia, fuga He, XRD, ICP-OES y transmisión óptica.