품질 보증
인증 및 품질
당사의 품질 관리 시스템은 모든 부품이 요구 사양을 충족하도록 완전한 문서화와 추적성으로 지원합니다.
인증
표준 및 규정 준수
최신 인증서와 선언서는 견적 또는 프로젝트 범위에 맞춰 요청 시 제공됩니다.
ISO 9001:2015
품질 경영 시스템
발행 기관: 공인 인증 기관
입고 검사, 공정 중 치수 관리, 최종 검증, 추적 문서화까지 제품 전 주기를 품질 관리 범위에 포함합니다.
최신 문서 요청SEMI 표준 적합성
반도체 장비 및 소재
발행 기관: SEMI International
석영 및 세라믹 부품은 반도체 제조 장비에 적용되는 SEMI 기대사항에 맞춰 생산됩니다.
최신 문서 요청RoHS 적합성
유해물질 사용 제한
발행 기관: EU 지침 2011/65/EU
제품은 RoHS 요구사항을 충족하며 규제 기준을 초과하는 제한 유해물질을 포함하지 않습니다.
최신 문서 요청REACH 적합성
화학물질 안전 규정
발행 기관: 유럽화학물질청(ECHA)
당사 제품에 대해 기준치를 초과하는 SVHC가 없음을 확인하는 REACH 선언서를 제공합니다.
최신 문서 요청문서 미리보기
회사 및 품질 문서
공급업체 검토에 도움이 되는 회사 자격 및 품질 문서 일부를 표시합니다. 견적 또는 프로젝트 파일용 최신 날인 문서는 요청할 수 있습니다.
품질 프로세스
4단계 품질 관리
01
원자재 입고 검사
석영, 사파이어, 세라믹 각 배치는 생산 투입 전에 순도 검증을 거칩니다.
02
공정 중 치수 관리
작업자는 교정된 게이지로 정기 확인하고, 핵심 가공 단계에서는 CMM으로 검증합니다.
03
최종 품질 검사
기능상 중요한 치수, 표면 조도, 청정도, 외관 품질을 출하 전에 점검합니다.
04
추적성 및 문서화
각 주문에는 교정 장비와 연결된 인증서, 검사 보고서, 치수 데이터가 함께 제공됩니다.
검사 장비
측정 역량
| 장비 | 브랜드 / 모델 | 측정 항목 | 정밀도 |
|---|---|---|---|
| 3차원 측정기(CMM) | Hexagon / Zeiss | 3D 치수 측정 | ±0.001 mm |
| 표면 조도 측정기 | Mitutoyo SJ-410 | Ra / Rz / Rq 파라미터 측정 | 0.001 μm 해상도 |
| 광학 프로파일 프로젝터 | Nikon V-24B | 윤곽 / 프로파일 검사 | ±0.001 mm |
| XRF 분광기 | Rigaku / Bruker | 원소 조성 분석 | ppm 수준 |
| ICP-OES / ICP-MS | PerkinElmer / Agilent | 미량 금속 불순물 분석 | ppb 수준 |
| 헬륨 누설 시험기 | Pfeiffer Vacuum | 용접 조립체 기밀성 검사 | <1×10⁻⁹ mbar·L/s |